國際標準簡稱:MEAS SCI REV
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《Measurement Science Review》是一本專注于INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領域的English學術期刊,創(chuàng)刊于2001年,由Slovak Academy of Sciences - Inst. Measurement Science出版商出版,出版周期Bimonthly。該刊發(fā)文范圍涵蓋INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION等領域,旨在及時、準確、全面地報道國內(nèi)外INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經(jīng)驗、科研成果、技術革新、學術動態(tài)等。該刊已被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄,在中科院最新升級版分區(qū)表中,該刊分區(qū)信息為大類學科工程技術4區(qū),2023年影響因子為1。
- theory of measurement - mathematical processing of measured data - measurement uncertainty minimisation - statistical methods in data evaluation and modelling - measurement as an interdisciplinary activity - measurement science in education - medical imaging methods, image processing - biosignal measurement, processing and analysis - model based biomeasurements - neural networks in biomeasurement - telemeasurement in biomedicine - measurement in nanomedicine - measurement of basic physical quantities - magnetic and electric fields measurements - measurement of geometrical and mechanical quantities - optical measuring methods - electromagnetic compatibility - measurement in material science
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 4區(qū) | 否 | 否 |
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工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 4區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū):中科院分區(qū)是SCI期刊分區(qū)的一種,是由中國科學院國家科學圖書館制定出來的分區(qū)。主要有兩個版本,即基礎版和升級版。2019年中國科學院文獻情報中心期刊分區(qū)表推出了升級版,實現(xiàn)了基礎版和升級版的并存過渡;升級版是對基礎版的延續(xù)和改進,將期刊由基礎版的13個學科擴展至18個,科研評價將更加明確。
按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 62 / 76 |
19.1%
|
按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 62 / 76 |
19.08%
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JCR分區(qū):JCR(Journal Citation Reports)由科睿唯安公司(前身為湯森路透)開發(fā)。JCR沒有設置大類,只將期刊分為176個具體學科,也就是中科院分區(qū)中的小類學科。基于不同學科的當年影響因子高低進行排序,將期刊的數(shù)量均勻分為四個部分,Q1區(qū)代表學科分類中影響因子排名前25%的期刊,以此類推,Q2區(qū)為前25%-50%期刊,Q3區(qū)為前50%-75%期刊,Q4區(qū)為75%以后期刊。
CiteScore排名:
學科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
大類:Engineering 小類:Control and Systems Engineering | Q3 | 208 / 321 |
35%
|
大類:Engineering 小類:Instrumentation | Q3 | 102 / 141 |
28%
|
大類:Engineering 小類:Biomedical Engineering | Q3 | 225 / 303 |
25%
|
CiteScore值計算方式:例如2024公布的CiteScore是將統(tǒng)計在 2020年-2023年間年所發(fā)表文章的引用次數(shù)除以在 2020年-2023年間所發(fā)表的發(fā)文總數(shù)。
CiteScore數(shù)據(jù)來源:是由全球著名學術出版商Elsevier(愛思唯爾)基于其Scopus數(shù)據(jù)庫推出的期刊評價指標。CiteScore指數(shù)以四年區(qū)間為基準來計算每本期刊的平均被引用次數(shù),并提供期刊領域排名、期刊分區(qū)的相關信息,它的作用是測量期刊的篇均影響力。
近年中科院分區(qū)趨勢圖
近年IF值(影響因子)趨勢圖
影響因子:是美國科學信息研究所(ISI)的期刊引證報告(JCR)中的一項數(shù)據(jù)。指的是某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。自1975年以來,每年定期發(fā)布于“期刊引證報告”(JCR)。
機構名稱 | 發(fā)文量 |
SLOVAK ACADEMY OF SCIENCES | 12 |
SLOVAK UNIVERSITY OF TECHNOL... | 12 |
TECHNICAL UNIVERSITY KOSICE | 6 |
BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOG... | 5 |
UNIVERSITY OF ZILINA | 5 |
CZECH ACADEMY OF SCIENCES | 4 |
RZESZOW UNIVERSITY OF TECHNO... | 4 |
TECHNICAL UNIVERSITY OF OSTR... | 4 |
HUBEI UNIVERSITY OF TECHNOLO... | 3 |
MAYKOP STATE TECHNOLOGICAL U... | 3 |
國家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
Slovakia | 30 |
CHINA MAINLAND | 25 |
Czech Republic | 16 |
Poland | 16 |
Russia | 7 |
Serbia | 5 |
Taiwan | 4 |
Spain | 3 |
Turkey | 3 |
Ukraine | 3 |
文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
Detection of Deterioration o... | 19 |
Information-measuring System... | 9 |
Frequency and Time Fault Dia... | 8 |
Fault Diagnosis of Ball Bear... | 4 |
I-cored Coil Probe Located A... | 3 |
Calculation of the Impedance... | 3 |
Interferometric Measurement ... | 3 |
Quality of One-channel Telem... | 2 |
Application of Conditional A... | 2 |
A New Line-Shape Asymmetry M... | 2 |
被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
SENSORS-BASEL | 28 |
IEEE ACCESS | 26 |
MEAS SCI REV | 22 |
APPL SCI-BASEL | 20 |
MEASUREMENT | 14 |
IEEE SENS J | 10 |
ELECTRONICS-SWITZ | 6 |
MEAS SCI TECHNOL | 5 |
REV SCI INSTRUM | 5 |
ADV MECH ENG | 4 |
引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
MEAS SCI REV | 22 |
IEEE T INSTRUM MEAS | 17 |
MEASUREMENT | 16 |
MECH SYST SIGNAL PR | 13 |
SENSOR ACTUAT B-CHEM | 13 |
METROLOGIA | 8 |
CIRCULATION | 7 |
IEEE T ELECTROMAGN C | 6 |
IEEE T MAGN | 6 |
INT J THERMOPHYS | 6 |
1、建議稿件控制10頁以上,文章撰寫語言為英語;(單欄格式,單倍行距,內(nèi)容10號字體,文稿類型包含:原創(chuàng)研究(Original Research)、案例報告(Case Report)、文獻綜述(Literature Review)等;文件格式包含word、PDF、LaTeX等。
2、稿件重復率控制10%以內(nèi),論文務必保證原創(chuàng)性、圖標、公式、引文等要素齊備,保證附屬資料的完整。已發(fā)表或引用過度的文章將不會被出版和檢索,禁止一稿多投,拒絕抄襲、機械性的稿件。
3、稿件必須有較好的英語表達水平,有圖,有表,有公式,有數(shù)據(jù)或設計,有算法(方案,模型),實驗,仿真等;參考文獻控制25條以上,參考文獻引用一半以上控制在近5年以內(nèi)。
圖片和圖表要求:1、建議使用TIFF、EPS、JPEG格式 ,TIFF格式 使用LZW壓縮。
2、文件大小最大不超過20MB,不要以單個文件的形式上傳數(shù)據(jù)。
3、彩色圖片的分辨率≥300dpi;黑白圖片的分辨率在≥500dpi;line art圖片類型的分辨率≥1000dpi;色彩模式建議采用RGB,除非期刊注明要CMYK。
4、線條不要細于0.25pt,也不能太粗,超過1.5pt,過細或過粗都影響美觀。
5、表格一般和manuscrript放置在一個word文檔里部分期刊 需要單獨上傳表格。
作者信息:1、包括作者姓名、最高學位,作者單位(精確到部門),郵箱,地址,郵編,關鍵詞,內(nèi)容,總結,項目基金,參考文獻,作者相片+簡介(一定要確保作者信息準確無誤,提交稿件之后這部分不能再作改動)。
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VERSITA, SOLIPSKA 14A-1, WARSAW, POLAND, 02-482
若用戶需要出版服務,請聯(lián)系出版商:VERSITA, SOLIPSKA 14A-1, WARSAW, POLAND, 02-482。
中科院分區(qū) 4區(qū)
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