來(lái)源:學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:36:27
《Ieee Transactions On Nuclear Science》中文名稱(chēng):《IEEE核科學(xué)匯刊》,創(chuàng)刊于1954年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,出版周期Bimonthly。
《IEEE 核科學(xué)匯刊》是 IEEE 核與等離子體科學(xué)學(xué)會(huì)的出版物。它被視為其所涵蓋的許多領(lǐng)域的主要技術(shù)信息來(lái)源。根據(jù) JCR 影響因子的判斷,TNS 始終位列核科學(xué)與技術(shù)類(lèi)別的前五名期刊。它的即時(shí)性指數(shù)較高,表明其發(fā)布的信息被視為及時(shí),并且引用半衰期相對(duì)較長(zhǎng),表明所發(fā)布的信息在多年內(nèi)也被視為有價(jià)值。
《IEEE 核科學(xué)匯刊》每?jī)蓚€(gè)月出版一次。其范圍包括核科學(xué)和工程理論和應(yīng)用的所有方面。它專(zhuān)注于檢測(cè)和測(cè)量電離輻射的儀器;粒子加速器及其控制;核醫(yī)學(xué)及其應(yīng)用;輻射對(duì)材料、部件和系統(tǒng)的影響;反應(yīng)堆儀器和控制;以及太空輻射測(cè)量。
旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國(guó)內(nèi)外NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗(yàn)、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)等。
機(jī)構(gòu)名稱(chēng) | 發(fā)文量 |
UNITED STATES DEPARTMEN... | 105 |
CHINESE ACADEMY OF SCIE... | 100 |
VANDERBILT UNIVERSITY | 93 |
CENTRE NATIONAL DE LA R... | 80 |
EUROPEAN ORGANIZATION F... | 76 |
CEA | 73 |
ISTITUTO NAZIONALE DI F... | 58 |
UNIVERSITE DE TOULOUSE | 34 |
UNIVERSITE DE MONTPELLI... | 31 |
UNITED STATES DEPARTMEN... | 29 |
國(guó)家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
USA | 331 |
CHINA MAINLAND | 200 |
France | 185 |
Italy | 105 |
Switzerland | 95 |
Japan | 78 |
GERMANY (FED REP GER) | 53 |
South Korea | 44 |
England | 41 |
Russia | 37 |
文章引用名稱(chēng) | 引用次數(shù) |
Needs, Trends, and Advances ... | 53 |
Evolution of Total Ionizing ... | 15 |
Contribution of Thermal Neut... | 12 |
Displacement Damage in Silic... | 11 |
Improvement of the Time Reso... | 11 |
Influence of LDD Spacers and... | 9 |
LHC and HL-LHC: Present and ... | 9 |
Thin Silicon Microdosimeter ... | 9 |
Luminescence and Scintillati... | 9 |
Single-Event Burnout Mechani... | 8 |
被引用期刊名稱(chēng) | 數(shù)量 |
IEEE T NUCL SCI | 1985 |
NUCL INSTRUM METH A | 1041 |
PHYS MED BIOL | 365 |
MICROELECTRON RELIAB | 360 |
J INSTRUM | 341 |
IEEE T ELECTRON DEV | 192 |
PROG NUCL ENERG | 188 |
ELECTRONICS-SWITZ | 168 |
IEEE ACCESS | 160 |
SENSORS-BASEL | 159 |
引用期刊名稱(chēng) | 數(shù)量 |
IEEE T NUCL SCI | 1985 |
NUCL INSTRUM METH A | 350 |
J INSTRUM | 147 |
APPL PHYS LETT | 112 |
J APPL PHYS | 102 |
IEEE T ELECTRON DEV | 84 |
NUCL INSTRUM METH B | 60 |
MED PHYS | 52 |
MICROELECTRON RELIAB | 50 |
PHYS MED BIOL | 48 |
聲明:該作品系作者結(jié)合互聯(lián)網(wǎng)公開(kāi)知識(shí)整合。如有錯(cuò)漏請(qǐng)聯(lián)系我們,我們將及時(shí)更正。