來(lái)源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:36:35
《Microelectronics Journal》中文名稱：《微電子雜志》，創(chuàng)刊于1967年，由Elsevier出版商出版，出版周期Monthly。
《微電子學(xué)雜志》自 1969 年創(chuàng)刊以來(lái)，是一個(gè)傳播微電子系統(tǒng)、電路和新興技術(shù)研究和應(yīng)用的國(guó)際論壇。《微電子學(xué)雜志》上發(fā)表的論文都經(jīng)過(guò)同行評(píng)審，以確保其原創(chuàng)性、相關(guān)性和時(shí)效性。因此，該雜志提供了有關(guān)微電子電路和系統(tǒng)的全球定期全面更新。
《微電子學(xué)雜志》誠(chéng)邀撰寫描述以下所有領(lǐng)域重要研究和應(yīng)用的論文。涵蓋最新發(fā)展的綜合評(píng)論/調(diào)查論文也將予以考慮。《微電子學(xué)雜志》涵蓋電路和系統(tǒng)。該主題包括但不限于：模擬、數(shù)字、混合和射頻電路及相關(guān)設(shè)計(jì)方法；邏輯、架構(gòu)和系統(tǒng)級(jí)綜合；測(cè)試、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、內(nèi)置自測(cè)試；面積、功率和熱分析與設(shè)計(jì)；混合域仿真與設(shè)計(jì)；嵌入式系統(tǒng)；非馮諾依曼計(jì)算及相關(guān)技術(shù)和電路；高復(fù)雜度系統(tǒng)集成的設(shè)計(jì)和測(cè)試； SoC、NoC、SIP 和 NIP 設(shè)計(jì)和測(cè)試；3-D 集成設(shè)計(jì)和分析；新興器件技術(shù)和電路，如 FinFET、SET、自旋電子學(xué)、SFQ、MTJ 等。
也歡迎應(yīng)用方面，例如信號(hào)和圖像處理（包括密碼電路）、傳感器和執(zhí)行器（包括傳感器網(wǎng)絡(luò)）、可靠性和質(zhì)量問(wèn)題以及經(jīng)濟(jì)模型。
1、建議稿件控制10頁(yè)以上，文章撰寫語(yǔ)言為英語(yǔ)；（單欄格式，單倍行距，內(nèi)容10號(hào)字體，文稿類型包含：原創(chuàng)研究(Original Research)、案例報(bào)告(Case Report)、文獻(xiàn)綜述(Literature Review)等；文件格式包含word、PDF、LaTeX等。
2、稿件重復(fù)率控制10%以內(nèi)，論文務(wù)必保證原創(chuàng)性、圖標(biāo)、公式、引文等要素齊備，保證附屬資料的完整。已發(fā)表或引用過(guò)度的文章將不會(huì)被出版和檢索，禁止一稿多投，拒絕抄襲、機(jī)械性的稿件。
3、稿件必須有較好的英語(yǔ)表達(dá)水平，有圖，有表，有公式，有數(shù)據(jù)或設(shè)計(jì)，有算法（方案，模型），實(shí)驗(yàn)，仿真等；參考文獻(xiàn)控制25條以上，參考文獻(xiàn)引用一半以上控制在近5年以內(nèi)。
1、建議使用TIFF、EPS、JPEG格式 ，TIFF格式 使用LZW壓縮。
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3、彩色圖片的分辨率≥300dpi；黑白圖片的分辨率在≥500dpi；line art圖片類型的分辨率≥1000dpi；色彩模式建議采用RGB，除非期刊注明要CMYK。
4、線條不要細(xì)于0.25pt,也不能太粗，超過(guò)1.5pt,過(guò)細(xì)或過(guò)粗都影響美觀。
5、表格一般和manuscrript放置在一個(gè)word文檔里部分期刊 需要單獨(dú)上傳表格。
1、包括作者姓名、最高學(xué)位，作者單位（精確到部門），郵箱，地址，郵編，關(guān)鍵詞，內(nèi)容，總結(jié)，項(xiàng)目基金，參考文獻(xiàn)，作者相片+簡(jiǎn)介（一定要確保作者信息準(zhǔn)確無(wú)誤，提交稿件之后這部分不能再作改動(dòng)）。
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