來源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:36:47
《Acm Computing Surveys》中文名稱：《ACM 計算調(diào)查》，創(chuàng)刊于1971年，由Association for Computing Machinery (ACM)出版商出版，出版周期Quarterly。
這些全面、易讀的調(diào)查和教程論文引導(dǎo)讀者瀏覽文獻(xiàn)，并以通俗易懂的方式向那些希望學(xué)習(xí)專業(yè)之外領(lǐng)域基礎(chǔ)知識的人解釋主題。《計算調(diào)查》（CSUR）中精心策劃和呈現(xiàn)的介紹也是研究人員和專業(yè)人士發(fā)展復(fù)雜技術(shù)觀點(diǎn)和確定其趨勢的絕佳方式。我們也歡迎以新穎有趣的方式將現(xiàn)有技術(shù)和新興技術(shù)（如機(jī)器學(xué)習(xí)）與各種科學(xué)和工程領(lǐng)域聯(lián)系起來的投稿。
旨在及時、準(zhǔn)確、全面地報道國內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗(yàn)、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動態(tài)等。
| 機(jī)構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 |
| UNIVERSITY OF MELBOURNE | 20 |
| STATE UNIVERSITY SYSTEM... | 13 |
| CENTRE NATIONAL DE LA R... | 10 |
| INDIAN INSTITUTE OF TEC... | 9 |
| UNIVERSITY OF OTTAWA | 9 |
| UNIVERSITY OF SYDNEY | 8 |
| INESC | 7 |
| POLYTECHNIC UNIVERSITY ... | 7 |
| STATE UNIVERSITY OF NEW... | 7 |
| UNIVERSIDADE DE LISBOA | 7 |
| 國家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
| USA | 94 |
| Australia | 58 |
| CHINA MAINLAND | 52 |
| England | 48 |
| India | 34 |
| Brazil | 31 |
| GERMANY (FED REP GER) | 31 |
| France | 28 |
| Spain | 27 |
| Canada | 26 |
| 文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
| Feature Selection: A Data Pe... | 146 |
| A Survey of Methods for Expl... | 132 |
| Deep Learning Based Recommen... | 125 |
| A Survey of Communication Pr... | 51 |
| A Survey on Deep Learning: A... | 51 |
| Detection and Resolution of ... | 44 |
| Multimedia Big Data Analytic... | 42 |
| A Survey on Homomorphic Encr... | 35 |
| A Comprehensive Survey of De... | 33 |
| Community Discovery in Dynam... | 32 |
| 被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE ACCESS | 664 |
| SENSORS-BASEL | 201 |
| ACM COMPUT SURV | 178 |
| FUTURE GENER COMP SY | 155 |
| MULTIMED TOOLS APPL | 89 |
| EXPERT SYST APPL | 76 |
| INFORM SCIENCES | 71 |
| CLUSTER COMPUT | 63 |
| J NETW COMPUT APPL | 63 |
| IEEE INTERNET THINGS | 58 |
| 引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| ACM COMPUT SURV | 178 |
| FUTURE GENER COMP SY | 145 |
| IEEE T PATTERN ANAL | 128 |
| PATTERN RECOGN | 90 |
| IEEE COMMUN MAG | 88 |
| IEEE T PARALL DISTR | 87 |
| IEEE COMMUN SURV TUT | 86 |
| IEEE ACCESS | 82 |
| COMMUN ACM | 80 |
| SENSORS-BASEL | 79 |
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