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首頁 SCI Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems雜志 雜志問答

《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》雜志的收稿方向是什么？

來源：學術之家整理 2025-03-18 15:38:23

《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》的收稿方向主要集中在COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE領域，涵蓋該領域的全方面內容。

《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》特點：

《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》中文名稱：《集成電路和系統的計算機輔助設計IEEE Transactions》，創刊于1982年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期Monthly。

本期刊旨在發表個人感興趣的論文，這些論文涉及由模擬、數字、混合信號、光學或微波元件組成的集成電路和系統的計算機輔助設計領域。這些輔助工具包括系統級、物理和邏輯設計的方法、模型、算法和人機界面，包括：規劃、綜合、分區、建模、仿真、布局、驗證、測試、硬件-軟件協同設計和各種復雜程度的集成電路和系統設計的文檔。重點是用于評估和設計集成電路和系統的性能、功率、可靠性、可測試性和安全性等指標的設計工具和技術。

《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》定位：

旨在及時、準確、全面地報道國內外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。

發文統計（統計區間：2023年-2024年）

機構名稱 發文量
UNIVERSITY OF CALIFORNI... 66
TSINGHUA UNIVERSITY 51
DUKE UNIVERSITY 47
CHINESE UNIVERSITY OF H... 37
UNIVERSITY OF TEXAS SYS... 37
CHINESE ACADEMY OF SCIE... 36
INDIAN INSTITUTE OF TEC... 34
STATE UNIVERSITY SYSTEM... 29
NATIONAL TSING HUA UNIV... 28
PURDUE UNIVERSITY SYSTE... 24
國家/地區 發文量
USA 434
CHINA MAINLAND 291
Taiwan 74
GERMANY (FED REP GER) 67
South Korea 47
India 45
France 36
Canada 30
England 30
Austria 28
文章引用名稱 引用次數
Resource Management for Impr... 50
Angel-Eye: A Complete Design... 42
NeuroSim: A Circuit-Level Ma... 34
QoS-Adaptive Approximate Rea... 28
Adjusting Learning Rate of M... 26
YodaNN: An Architecture for ... 23
The Promise and Challenge of... 20
An Efficient Methodology for... 18
DeepThings: Distributed Adap... 17
Affinity-Driven Modeling and... 17
被引用期刊名稱 數量
IEEE T COMPUT AID D 426
IEEE T VLSI SYST 259
IEEE ACCESS 255
INTEGRATION 140
ACM T DES AUTOMAT EL 95
J CIRCUIT SYST COMP 89
IEEE T COMPUT 78
IEEE T CIRCUITS-I 69
ACM T EMBED COMPUT S 62
J ELECTRON TEST 62
引用期刊名稱 數量
IEEE T COMPUT AID D 426
IEEE T VLSI SYST 134
IEEE T COMPUT 106
IEEE J SOLID-ST CIRC 68
P IEEE 55
IEEE DES TEST 52
LAB CHIP 47
ACM T DES AUTOMAT EL 44
ACM T EMBED COMPUT S 40
IEEE T PARALL DISTR 35

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