來源：學術之家整理 2025-03-18 15:39:11
1.Web of Science平臺查詢：使用瀏覽器打開Web of Science的官方網站。請注意，該網站可能需要注冊登錄才能使用。在搜索框中輸入想要查詢的期刊名稱，進行搜索。在搜索結果中找到對應的期刊，點擊進入期刊詳情頁面，可以找到期刊的影響因子以及分區情況。Web of Science通常提供JCR分區信息，包括Q1、Q2、Q3、Q4四個分區。
2.中科院文獻情報中心查詢：使用瀏覽器打開中科院文獻情報中心的官方網站，或進入其期刊分區查詢頁面，在搜索結果中找到對應的期刊，查看其分區情況。中科院文獻情報中心的分區主要是根據期刊超越指數來劃分，與JCR分區有所不同，但同樣具有參考價值。
3.聯系期刊編輯部：如果對某個期刊的分區情況有疑問，可以直接聯系雜志社或咨詢在線客服。
需要注意的是，如果目標期刊未被SCI收錄，則無法查詢到JCR分區信息；部分新興期刊或非英文期刊可能不在JCR數據庫中。在選擇期刊時，除了考慮分區情況外，還需要綜合考慮期刊的影響力、發表難度、研究領域等因素。
《Microelectronics Reliability》是一本專注于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的English學術期刊，創刊于1964年，由Elsevier Ltd出版商出版，出版周期Monthly。該刊發文范圍涵蓋ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC等領域，旨在及時、準確、全面地報道國內外ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。
《Microelectronics Reliability》中文名稱：《微電子可靠性》，ISSN號為0026-2714，E-ISSN號為1872-941X。Monthly出版一期特刊，專注于工程：電子與電氣領域的關鍵概念，提供最新的研究概述。
《微電子可靠性》致力于傳播微電子設備、電路和系統可靠性的最新研究成果和相關信息，涵蓋材料、工藝和制造、設計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領域（如設計、制造、集成、測試和現場操作）相結合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領域和特定應用領域案例研究的實踐論文。
大多數被接受的論文將以研究論文的形式發表，描述重大進展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發展主題的論文可能會被接受作為評論論文發表。更初步的緊急通訊和關于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發表。所有投稿均需經過該領域頂尖專家的同行評審。
該刊已被SCIE數據庫收錄，顯示了其學術影響力和認可度。此外，該期刊在中科院最新升級版分區表中，被歸類為工程技術大類4區，ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣小類4區，進一步證明了其在學術界的地位。
從影響因子來看，《Microelectronics Reliability》雜志的影響因子為：1.6 ，這表明該期刊所發表的論文在學術界具有廣泛的影響力和引用率。該期刊的CiteScore為3.3，SJR為0.394，SNIP為0.801，顯示出其在國際學術界的重要影響力。
近年中科院分區趨勢圖
近年IF值(影響因子)趨勢圖
影響因子：是美國科學信息研究所(ISI)的期刊引證報告(JCR)中的一項數據。指的是某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率，是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。自1975年以來，每年定期發布于“期刊引證報告”(JCR)。
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