來源:學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:40:18
《Wiley Interdisciplinary Reviews-data Mining And Knowledge Discovery》中文名稱:《Wiley 跨學(xué)科評論——數(shù)據(jù)挖掘和知識發(fā)現(xiàn)》,創(chuàng)刊于2011年,由John Wiley and Sons Inc.出版商出版,出版周期6 issues/year。
WIREs DMKD 的目標是:(a) 通過一系列由頂尖研究人員撰寫的評論文章介紹數(shù)據(jù)挖掘和知識發(fā)現(xiàn)的最新進展;(b) 通過收錄從數(shù)據(jù)挖掘和知識發(fā)現(xiàn)的不同角度探討關(guān)鍵主題的文章來捕捉該領(lǐng)域至關(guān)重要的跨學(xué)科特色,包括技術(shù)、商業(yè)、醫(yī)療保健、教育、政府、社會和文化等各種應(yīng)用領(lǐng)域;(c) 通過系統(tǒng)的內(nèi)容更新計劃來捕捉數(shù)據(jù)挖掘和知識發(fā)現(xiàn)的快速發(fā)展;(d) 通過以廣泛受眾易于理解的方式介紹該領(lǐng)域的成就和挑戰(zhàn),鼓勵人們積極參與該領(lǐng)域。WIREs DMKD 的內(nèi)容將對高年級本科生和研究生、學(xué)術(shù)課程的教學(xué)和研究教授以及行業(yè)中的科學(xué)家和研究經(jīng)理有用。
旨在及時、準確、全面地報道國內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動態(tài)等。
機構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 |
INDIAN INSTITUTE OF TEC... | 5 |
UNIVERSIDAD DE CORDOBA | 5 |
SWINBURNE UNIVERSITY OF... | 4 |
AIN SHAMS UNIVERSITY | 3 |
ERCIYES UNIVERSITY | 3 |
HARBIN INSTITUTE OF TEC... | 3 |
HELMHOLTZ ASSOCIATION | 3 |
INESC | 3 |
KU LEUVEN | 3 |
LA TROBE UNIVERSITY | 3 |
國家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
USA | 31 |
CHINA MAINLAND | 27 |
Spain | 16 |
GERMANY (FED REP GER) | 13 |
Australia | 12 |
England | 12 |
India | 10 |
Italy | 8 |
Turkey | 7 |
Brazil | 6 |
文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
Deep learning for sentiment ... | 99 |
Ensemble learning: A survey | 90 |
Causability and explainabili... | 59 |
Hyperparameters and tuning s... | 53 |
Deep learning for remote sen... | 31 |
Anomaly detection by robust ... | 17 |
A survey of incremental high... | 16 |
Performance evaluation in no... | 15 |
Recent trends in machine lea... | 11 |
A survey on educational proc... | 11 |
被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
IEEE ACCESS | 70 |
WIRES DATA MIN KNOWL | 32 |
EXPERT SYST APPL | 25 |
INFORM SCIENCES | 23 |
SENSORS-BASEL | 15 |
REMOTE SENS-BASEL | 13 |
APPL SCI-BASEL | 12 |
WATER-SUI | 12 |
SCI REP-UK | 11 |
APPL INTELL | 10 |
引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
J MACH LEARN RES | 38 |
WIRES DATA MIN KNOWL | 32 |
IEEE T PATTERN ANAL | 27 |
INFORM SCIENCES | 25 |
EXPERT SYST APPL | 24 |
MACH LEARN | 24 |
PATTERN RECOGN | 22 |
IEEE T EVOLUT COMPUT | 20 |
SCIENCE | 20 |
KNOWL-BASED SYST | 19 |
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